尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与波束轴线（）。

处于同深度上的一个表面状态粗糙的缺陷和同样尺寸但表面光滑的缺陷，在相同探伤灵敏度下且波束垂直射及时，后者的回波高度（）。

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深度相同但表面状态不同的缺陷，在相同探伤灵敏度下，两者的回波高度不同。

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在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷，则该缺陷的当量：（）

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一个几何形状不是扁平的缺陷，其取向、距离和直径均与扁平的缺陷相同，在相同探伤灵敏度下波束垂直射及时，前者的回波高度与后者的回波高度相比，通常是：（）

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同直径的三个平底孔处于同一试块中，但深度分别为100、200和300mm，在用直探头以相同探伤灵敏度下探测时，回波最高的平底孔深度为（）。

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以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。

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探测面光洁度分别△2和△1的两个试块中，具有直径、取向、距离都相同的横通孔，在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面，则回波高度：（）

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以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷：（）

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探测面光洁度不同，横通孔直径、取向、距离都相同，在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面，则回波高度（）。

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