下列技术中适于检验厚度很大物体表面层缺陷的是（）。
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康普顿效应中，散射光子的波长大于（）的波长。
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康普顿效应中，散射光子的波长（）入射光子的波长。
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康普顿效应中，散射光子的波长大于入射光子的波长。
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在下列问题中，更适于采用中子射线照相检验的是（）。
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背散射线不影响底片的（）。
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背散射线影响底片的（）。
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射线照相时，在暗盒背放置铅板的原因是阻挡背面散射线。
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材料晶粒尺寸大于（）波长时，超声波的散射会影响检验结果。
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