单选题

利用X荧光光谱仪测S时用下面哪块晶体进行分光()

ALiF220

BLiF200

CGe111

DPE002

正确答案

来源:www.examk.com

答案解析

相似试题
  • 测P时用下面哪块晶体进行分光()

    单选题查看答案

  • X荧光光谱仪衍射晶体的选择原则有哪些?

    简答题查看答案

  • 利用X荧光光谱仪分析试样中的As、Pb时,AsKα线与PbLα线有干扰,则应选择()线进行分析。

    填空题查看答案

  • X射线荧光仪和光电直读光谱仪分别采用()和()来接受被测元素特征光谱信号的。

    填空题查看答案

  • X射线荧光光谱分析是相对分析方法,需要通过测试()来确定待测样品的含量。

    填空题查看答案

  • X射线荧光光谱法是对元素的()进行分析。

    单选题查看答案

  • AxiosX荧光光谱仪停机超过24小时,需对X-RayTube进行()处理。

    填空题查看答案

  • 柳钢使用的AxiosX荧光光谱仪安装()五块衍射晶体。

    单选题查看答案

  • 柳钢使用的AxiosX荧光光谱仪安装有:()五块衍射晶体。

    填空题查看答案