对电子产品整机进行动态老化试验，错误的做法是（）。
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电子元器件的质量参数从整机制造工艺方面考虑主要有（）。
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电子整机产品中的屏蔽分为（）三种类型。
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一般对于较为复杂的整机产品调试工作可分段进行，常分为（）和（）调试。
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产品老化通常是在（）条件下进行的，老化属于非破坏性实验。
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对电子产品进行湿度试验，其试验条件分别是湿度（），均在＋40℃下进行48h的湿度试验。
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用于军工、航天的电子产品对电子元器件要进行（）。
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整机产品生产过程中的基本依据是（）
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电子整机的可靠性结构最常见的有（）。
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