在探测厚度较大的工件时，选用较小K值的探头是为了减少声程过大而引起的衰减，便于发现远场区的缺陷。

在探测厚度较小的工件时，选用较大K值的探头是为了增大一次波的声程，避免近场区探伤。

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当工件厚度较大时，选用小K值，以减少声程过大引起的（），便于发现远区缺陷。

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当工件厚度较大时，选用小K值，以减少声程过大引起的衰减，便于发现远区缺陷。

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一般工件厚度较小时，选用较大的K值，以便增加（）的声程，避免近场区探伤。

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一般工件厚度较小时，选用较大的K值，以便增加一次波的声程，避免近场区探伤。

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探测表面不太平整，曲率较大的工件时，为减少（），宜选用（）探头。

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采用接触法超探，探测近距离（或小直径）工件时，为获得较大声场范围，可选用（）直径的晶片。

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接触法超声波探伤，探测近距离（或小直径）工件时，为获得较大声场范围，可选用（）直径晶片的探头。

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当工件厚度较大时，怎样便于发现远区缺陷？

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