用试件底面的方法校准探测灵敏度时，底面所在部位应平整（）。

用试块的方法校准仪器探测灵敏度时，为避免修正，则应采用（）。

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用底面反射的方法校准探测灵敏度时，底面所在的部位可以是任意的。（）

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用试块的方法标准探测灵敏度时，为避免修正，则应采用（）。

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在一定灵敏度下探测材料时，材质衰减越大则底面回波（）

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直探头探伤，反射体距离小于三倍近场区长度时，校准探测灵敏度应采用（）。

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用试块法调节锻件探伤灵敏度时应作（）及（）补偿。

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用试块法调整探伤灵敏度时，为避免修正值，应采用（）试块。

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用试块法调整探伤灵敏度时，为避免修正值，应采用标准块。（）

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以工件底面作为灵敏度校正基准时可以（）。

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