A整体受潮;
B整体劣化;
C小体积试品的局部缺陷;
D大体积试品的局部缺陷。
测量介质损耗因数,通常能发现的设备绝缘缺陷是()。
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为什么说测量电气设备的介质损耗因数tgδ,对判断设备绝缘的优劣状况具有重要意义?
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介质损耗因数tgδ试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。
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现场用西林电桥测量设备绝缘的介质损耗因数,出现试验电源与干扰电源不同步,电桥测量无法平衡时,应采用的正确方法是()。
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测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,影响测试结果的因数包括()。
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测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是()。
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在高于起始放电电压时,绝缘的介质损耗会随电压的增加而()。因此,用测量介质损耗的方法,可以探测设备的局部放电,即所谓测量绝缘的()。但这种方法的灵敏度较低。
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现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tgδ的主要原因:①标准电容器CN有损耗,且tgδN>tgδx;②电场干扰;③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响;④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响。
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对高压电容式绝缘结构的试品,不仅要监测其绝缘介质损耗因数,还要监测其电容量的相对变化。()
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