A1000LX
B1000μw/cm2
C500LX
D3000μw/cm2
JB/T4730.4-2005标准规定:非荧光检测时,被检工件表面可见光照度应不小于()LX。
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JB/T4730.4-2005标准规定:非荧光磁粉检测时,被检工件表面的可见光照度应大于等于1000Lx。
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用连续法检测时,检测灵敏度不仅与被检工件表面磁场强度有关,还受被检工件材质的影响。
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用连续法检测时,检测灵敏度几乎不受被检工件材质的影响,仅与被检工件表面磁场强度有关。
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按JB/T4730.5-2005标准,采用着色渗透检测方法时,由于现场条件所限无法满足观察所需要的白光照度要求,可见光照度可适当降低,但不得低于500lx。这是指对下列哪个位置的要求()
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JB/T4730.4-2005标准规定:当被检工件表面均匀涂层厚度不超过0.5mm,且不影响检测结果时,经合同各方同意,可以带涂层进行磁粉检测。
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按JB/T4730.5-2005标准,被检工件表面粗糙度在渗透检测时可适当提高放宽,其是基于下列哪一种前提条件()
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JB/T4730.4-2005标准规定:如果被检工件表面残留有涂层,当涂层厚度均匀不超过(),且不影响检测结果时,经合同各方同意,可以带涂层进行磁粉检测。
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通常应将像质计放在工件射线源侧的表面上,并靠近被检工件的边缘。
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