A15mm
B20mm
C25mm
D30mm
使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。
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用于现场焊缝的扫查装置应能对轨头和轨底两部位进行()扫查,能对轨腰部位进行K型扫查或串列式扫查。
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使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的()。
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使用K型扫查阵列式探头探测焊缝,增加发收晶片数量主要是为了提高()。
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焊缝超声波探伤中,因焊缝余高的影响,一般采用探头()移动的扫查方式。
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焊缝探伤所用的组合或阵列式探头各子探头入射点相对偏差应小于或等于()。
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焊缝探伤所用的阵列探头分段扫查间隔应≤15mm。
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焊缝探伤所用的组合或阵列式探头各子探头灵敏度相对偏差应不超过4dB。
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钢轨焊缝探伤中使用双K1探头探测轨底缺陷,当轨底有缺陷存在时,扫查时会产生一次失底波,失波时探头位移长度约为缺陷长度的()倍。
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