深度千分尺基座工作面的平面度不大于（）

以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）

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深度千分尺基座测量面的平面度不应大于（）；其深度千分尺的校对量具和尺寸偏差不超过（）。

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检定游标高度尺的示值或量爪工作面与基座工作面的平行度时，在1级平板上进行。对1级平板来说，其平面度不大于（）。

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检定游标高度尺的示值误差或量爪工作面与基座工作面的平行度时，在1级平板上进行，对1级平板来说，其平面度不大于（）。

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数显卡尺外测量爪工作面的平面度不大于（），该量爪两工作面合并后的间隙量不大于（）。

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壁厚千分尺测微螺杆工作面的平面度应不大于（）。

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壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于（）。

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外径千分尺和校对量杆的工作面的表面粗糙洁度Ra应不大于（），壁厚和板厚千分尺工作面的Ra不大于（）。

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内径千分尺测头工作面的曲率半径应不大于其测量下限的（）。

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