磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。

磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。

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磁粉探伤中，为有效地检出试件表面缺陷，宜采用直流电流磁化试件

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磁粉探伤中，为有效地检出试件表面缺陷，宜采用交流电流磁化试件

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磁粉探伤中，为了有效地检出近表面缺陷，宜采用交流电流磁化试件

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磁粉探伤中，为有效地检出试件表面缺陷，宜采用（）电流磁化试件；为了有效地检出近表面缺陷，宜采用（）电流磁化试件

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磁粉探伤法只能检查铁磁性材料的表面及近表面位置缺陷

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磁粉探伤方法适用于检测点状缺陷和平行于表面的分层。

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磁粉探伤方法适用于检测点状缺陷和平行于表面的分层。

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磁粉探伤是利用在试件上能建立一定大小的（），并在缺陷附近形成一定大小的（），且足以吸附一定量的（）而呈现磁痕，以显示缺陷的存在的探伤方法

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