A侧壁干扰
B61°角反射波
C工件底面不平
D以上都对
纵波垂直法探伤中,由于()的结果,靠近侧壁探测时缺陷回波低,远离侧壁探测时缺陷回波高。
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应用无损检测技术可以探测到()的工件内部缺陷。
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应用无损检测技术,可以探测到肉眼无法看到的工件内部缺陷。
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直探头从端部探测细棒状工件时,在底波后面出现的迟到波是由于声束射到工件侧面产生()所致。
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材料中存在表面缺陷和近表面缺陷,磁化后会在缺陷附近产生一磁场,该磁场称为()。
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材料中存在表面和近表面缺陷,磁化后会在缺陷附近产生一磁场,该磁场称为漏磁场。
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探测粗糙表面的工件时,为了提高声能的传递,应选用()。
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探测粗糙表面的工件时,为了提高声能的传递,应选用()、()的耦合剂。
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探测粗糙表面的工件时,为了提高声能的传递,应选用声阻抗大粘度大的耦合剂。
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