综合致热型设备发热的原因可能包括电流效应、电磁效应、电压效应。

综合致热型设备发热的原因可能包括（）。

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红外检测表面温度判断法主要适用于电流致热型和（）效应引起发热的设备。

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红外热像检测判断方法中，（）主要适用于电流致热型和电磁效应引起发热的设备。根据测得的设备表面温度值，对照GB/T11022中相关规定，结合环境气候条件、负荷大学进行分析判断。

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红外测温中表面温度判断法：主要适用于（）致热型和（）效应引起发热的设备。

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红外热像检测表面温度判断法主要适用于电压致热型；综合致热型引起发热的设备。

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表面温度判断法：主要适用于电流致热型和（）效应引起发热的设备。根据测得的设备表面温度值，对照GB/T11022中高压开关设备和控制设备各种部件、材料及绝缘介质的温度和温升极限的有关规定，结合环境气候条件、负荷大小进行分析判断。

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红外热像检测判断方法中，（）主要适用于电流致热型设备。特别是对小负荷电流致热型设备，采用该法可降低小负荷缺陷的漏判率。对电流致热型设备，发热点温升值小于15K时，不宜采用该法。

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对电流致热型设备，发热点温升值小于（）时，不宜采用相对温差判断法。

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对电流致热型设备，（），不宜采用相对温差判断法。

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