检测晶粒粗大的材料，应使用（）。
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检测晶粒粗大的材料应使用（）的探头。
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检测晶粒粗大的材料，应使用高频率的探头。
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检测晶粒粗大的材料，应使用高频率的探头
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锻件探伤中，荧光屏上出现“（）”是由于工件材料晶粒粗大。
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锻件探伤中，荧光屏上出现“淋状波”是由于工件材料晶粒粗大。
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引起超声波衰减的主要原因是（）晶粒散射，介质吸收
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锻件探伤中，荧光屏上出现“淋状波”是由于工件材料晶粒（）。
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材料晶粒尺寸大于（）波长时，超声波的散射会影响检验结果。
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