A声束扩散
B材质衰减
C仪器阻塞效应
D折射
靠近探头的缺陷不一定都能探测到,因为超声波检测仪器存在有仪器()效应
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靠近探头的长条形缺陷并不一定都能探测到,因为()
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单晶直探头接触法检测中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()。
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单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:()
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在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置,其原因是()。
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用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时,探头最不利的探测位置是()
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主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是()。
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用2.5P14Z探头探测某锻件,发现在100mm深处有一个Φ6当量平底孔缺陷,根据标准应评几级?
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当用一个探头探测某缺陷时,如果该缺陷会给出多个回波显示,则所用探头的主声束可能存在下述情况()
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