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TiO为NaCl型结构,每个晶胞中有4个TiO化学式单元,X射线衍射数据表明Ti和O的比例为1:1,立方晶胞的边长为418pm,测量体积和质量得到的密度是4.92g·cm-3。这些数据能否表明晶体内部有缺陷存在?如果有的话,请进一步指出它们属空位缺陷还是间隙缺陷(已知1个TiO化学单元质量为63.88u,1u= 1.66×10-24g?
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NiO晶体为NaCl型结构,将它在氧气中加热,部分Ni2+将氧化为Ni3+,成为NixO(x<1)。今有一批NixO,测得其密度为6.47,用波长λ=154pm的X射线通过粉末法测得立方晶胞111衍射指标的θ=18.71°(sinθ=0.3208)。
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NiO晶体为NaCl型结构,将它在氧气中加热,部分Ni2+将氧化为Ni3+,成为NixO(x<1)。今有一批NixO,测得其密度为6.47,用波长λ=154pm的X射线通过粉末法测得立方晶胞111衍射指标的θ=18.71°(sinθ=0.3208)。
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NiO晶体为NaCl型结构,将它在氧气中加热,部分Ni2+将氧化为Ni3+,成为NixO(x<1)。今有一批NixO,测得其密度为6.47,用波长λ=154pm的X射线通过粉末法测得立方晶胞111衍射指标的θ=18.71°(sinθ=0.3208)。
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NiO晶体为NaCl型结构,将它在氧气中加热,部分Ni2+将氧化为Ni3+,成为NixO(x<1)。今有一批NixO,测得其密度为6.47,用波长λ=154pm的X射线通过粉末法测得立方晶胞111衍射指标的θ=18.71°(sinθ=0.3208)。
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NiO晶体为NaCl型结构,将它在氧气中加热,部分Ni2+将氧化为Ni3+,成为NixO(x<1)。今有一批NixO,测得其密度为6.47,用波长λ=154pm的X射线通过粉末法测得立方晶胞111衍射指标的θ=18.71°(sinθ=0.3208)。
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NiO晶体为NaCl型结构,将它在氧气中加热,部分Ni2+将氧化为Ni3+,成为NixO(x<1)。今有一批NixO,测得其密度为6.47,用波长λ=154pm的X射线通过粉末法测得立方晶胞111衍射指标的θ=18.71°(sinθ=0.3208)。在NixO晶体中,Ni-Ni间最短距离是多少?
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NiO晶体为NaCl型结构,将它在氧气中加热,部分Ni2+将氧化为Ni3+,成为NixO(x<1)。今有一批NixO,测得其密度为6.47,用波长λ=154pm的X射线通过粉末法测得立方晶胞111衍射指标的θ=18.71°(sinθ=0.3208)。算出x值,写出标明Ni的价态的化学式。
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已知NaCl晶体立方晶胞参数a=563.94pm,实验测得衍射111的衍射角θ=5.10°,求实验所用X射线的波长。
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