锻件中缺陷的取向通常为平行于晶粒流向。

锻件中缺陷的取向通常为（）。

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方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。

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涡流的流向与缺陷主平面平行时，缺陷检出率高。

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锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起什么现象？

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锻件探伤时，如缺陷引起底波明显下降或消失，说明锻件中存在较严重的缺陷。

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锻件中常见的缺陷有（），（），（），（）等等。

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一个几何形状不是扁平的缺陷，其取向、距离和直径均与扁平的缺陷相同，在相同探伤灵敏度下波束垂直射及时，前者的回波高度与后者的回波高度相比，通常是：（）

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锻件探伤中，示波屏上单独出现的缺陷回波称为单个缺陷回波，一般单个缺陷间距大于（）。

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晶粒边界熔化，是体积形缺陷，存在于焊缝或热影响区。轻度过烧呈小黑灰斑点，重度过烧呈黑色蜂窝状。

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