试件的几何形状或磁导率的变化等均可形成磁痕,这些磁痕是()显示
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试件的几何形状或磁导率的变化等形成的磁痕是相关显示
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试件的几何形状或磁导率的变化等形成的磁痕是无关显示
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在一射线照像底片上有明显黑色如鸟足形或树枝形状的显示,已确知该显示并非试件的瑕疵,则其引起原因可能是()
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退磁场仅与试件的形状尺寸有关,与磁化强度大小无关。
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射线照相中,几何因素或其他形状因素,如厚度变化、密度变化、设计孔、尺寸变化等所引起的显示为()
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由于热处理使试件某些区域的磁导率改变,可能形成非相关显示。
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由于热处理使试件某些区域磁导率改变,可能形成相关显示。
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试件中磁均匀性间断与哪些参数的急剧变化有关?()
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