单选题

CT成像的依据是（）

A横断面图像观察的特性

BX线的吸收衰减特性

C探测器的模数转换功能

D多幅照相成像原理

E多方位成像技术

正确答案

来源：www.examk.com

答案解析

CT成像是利用X线的衰减特性，这一过程与X线的基本特性有关。

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