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磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷

A

B

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答案解析

相似试题
  • 磁粉探伤方法只能检测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷。()

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  • 磁粉探伤中为了有效地检出试件的表面缺陷,宜采用()电流磁化试件。

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  • 磁粉探伤无法检出钢材内表面的裂纹缺陷。

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  • 对3个直径为30mm、长为50mm,有周向缺陷的圆柱体试件进行磁粉探伤时,正确的操作工艺是()。

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  • 无损探伤其涵义是探测和发现缺陷;无损检测其内涵不仅仅是探测缺陷,还包括测试试件的一些其他信息,例如结构、性质、状态等,并试图通过检测掌握更多的信息。无损检测包涵无损探伤,所以()。

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  • 表面波探伤只能发现距工件表面()深度范围内的表面缺陷。

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  • 磁粉探伤是一种利用由缺陷产生的漏磁场对磁粉吸引现象为基本原理的无损检测方法,这种方法可用于:()。

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  • 与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探伤方法是()探伤。

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  • 对一个未加工的粗糙锻件进行磁粉探伤时,发现一个向各个方向延伸的显示。显示看起来垂直于表面,延伸至工件深处且非常清晰。这缺陷可能是()。

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