A糊剂法
B压片法
C液膜法
D薄膜法
制备红外光谱分析固体试样时,不可用()压片。
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X射线荧光光谱法中,分析微量Si的样品不能用()磨料抛光。
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X射线荧光光谱法中,分析微量Al的样品不能用()磨料抛光。
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为了测定固体试样的红外光谱图,对固体试样的制备方法,除溶液法外还有:(),(),(),()等。
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X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
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X射线荧光光谱法分析金属样品,分析面的光洁程度直接影响()
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X射线荧光光谱法分析金属样品,对分析面的要求是什么?
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分析用的光谱样品必须保证()
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采用X射线荧光光谱法分析粉末样品,造成分析误差的因素中,粒度效应和()占很大比例。
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