A斜角探伤
B液浸探伤;
C接触探伤
D穿透法探伤
芯片表面与被检材料表面不平行的超声波探伤称为()。
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使探头与被检材料直接接触进行超声探伤的方法可能有哪几种?
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探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法,称为斜射法。
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超声波探伤,探头与被探管子表面作相对运动的轨迹是螺旋线。
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在探头表面和被检材料表面之间,用来使超声波振动从探头传播到被检材料中去的材料叫做()
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在进行超声波探伤时,探测面上的探头与被检工件的相对移动称为()。
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用任何方法作超声波探伤时,为有效地检出缺陷,应使超声波束与缺陷最大表面平行。
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在进行超声波探伤时,探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。
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探头与被检工件表面直接接触的方法,可用来作()。
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