简答题

试块的用途有哪些?CSK-IA试块可测定仪器和探头的哪些性能?

正确答案

试块用于鉴定超声检测系统特性和探伤灵敏度的样件,它主要用于确定合适的探伤方法;确定探伤灵敏度和评估缺陷大小;校验仪器及测试探头和仪器的性能。CSK—IA试块可测定仪器和探头的性能有:(1)利用厚度25mm和高度100mm,测定探伤仪的水平、垂直线性、动态范围和调整纵波探测范围;(2)利用R50和R100调整横波探测范围或测定斜探头的入射点(前沿长度);(3)利用高度85,91,100mm测定直探头分辨率;(4)利用φ40、φ44、φ50曲面测定斜探头分辨率;(5)利用50曲面和φ1.5横孔测定斜探头K值;(6)利用φ50有机玻璃块测定直探头盲区和穿透力;(7)利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。

答案解析

相似试题
  • CSK-1A试块有机玻璃可测定()。

    单选题查看答案

  • CSK-1A试块R100圆弧面可测定()。

    单选题查看答案

  • 超声波探伤试块的主要用途有哪些?

    简答题查看答案

  • CSK——1A试块能测定探伤仪和探头哪些指标?

    简答题查看答案

  • CSK—1A试块能测定探伤仪和探头的哪些指标?

    简答题查看答案

  • 画出CSK—1A标准试块的外形图及各部尺寸。

    简答题查看答案

  • 半圆试块的主要用途()。

    单选题查看答案

  • 超声波探伤试块的用途?

    简答题查看答案

  • 简述荷兰试块的主要用途?

    简答题查看答案