简答题

分别说明双探头K型和串列式探伤的适用范围?它们在探伤方法上有哪些不同?

正确答案

(1)双探头K型它由两个斜探头(常用K1探头)一发一收组成,探头分别置于被探测工件的两个探测面上,适用于上下底面平行、两个面都可作为探测面的工件,且缺陷反射面与探测面垂直的片状缺陷检测;(2)K型探伤方法只能用于上下底面都可作为探测面的工件,两个探头分别置于被探测工件的两个探测面上,探伤时两个探头同时同速纵向移动;串列式探伤与K型探伤方法有所不同,两个探头放置同一探测面上,利用底面反射作用来探测工件中的缺陷。

答案解析

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