数控机床按被控制量有无反馈装置可分为开环和闭环两种。()
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数控测量的实质就是将模拟量转化为数字量。()
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数控测量中的测量头按照其接触形式分为()测头和()测头。
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数控系统对机床控制的类别可分为()、()。
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按过程控制系统结构特点来分类可分为反馈控制系统、()系统、前馈-反馈控制系统。
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在比值控制系统中,一般选择易调节的量为主变量,易测量的量为副变量。
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CPU和I/O设备之间交换的信息分为数据信息、状态信息和控制信息。其中数据信息又分数字量、模拟量和()
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数控测量中主要测量方法有()。
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数控机床主要由()驱动装置、辅助装置和编辑机及其附属设备5部分组成。
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