如图所示,一平面简谐波沿OX轴正方向传播,波长为λ,若P1点处质点的振动方程为y1=Acos(2πvt+φ),则P2点处质点的振动方程为(),与P1点处质点振动状态相同的那些点的位置是()。
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如图所示,S1和S2为两相干波源,它们的振动方向均垂直图面,发出波长为λ的简谐波。P点是两列波相遇区域一点,已知S1P=2λ,S2P=2.2λ,两列波在P点发生的相消干涉,若S1的振动方程为y1=Acos(2πt+π/2),则S2的振动方程为()
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用劈尖干涉来检测工件表面的平整度,当波长为λ的单色光垂直入射时,观察到的干涉条纹如图所示,每一条纹的弯曲部分的顶点恰与左邻的直线部分的连线相切,试说明工件缺陷是凸还是凹?并估算该缺陷的程度。
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如图所示,一光学平板玻璃A与待测工件B之间形成空气劈尖,用波长λ=500nm的单色光垂直入射。看到的反射光的干涉条纹如图所示。有些条纹弯曲部分的顶点恰好与其右边条纹的直线部分相切。则工件的上表面缺陷是()
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如图a所示,一光学平板玻璃A与待测工件B之间形成空气劈尖,用波长λ=500nm(1nm=10-9m)的单色光垂直照射。看到的反射光的干涉条纹如图b所示。有些条纹弯曲部分的顶点恰好与其右边条纹的直线部分的切线相切.则工件的上表面缺陷是()
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如图所示,一束波长λ=480.0nm的平行光垂直照射到一宽度a=0.40nm的单缝上,单缝后透镜的焦距为f=60.0cm。当单缝两边缘点A、B射向P点的两条光线在P点的相位差为π时,P点离透镜焦点O的距离等于()。
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如图所示的装置产生的等厚干涉条纹称牛顿环。证明,N和r分别表示第N个暗纹和对应的暗纹半径。λ为照明光波波长,R为球面曲率半径。
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如图所示,牛顿环装置的平凸透镜与平板玻璃有一小缝隙eo。现用波长为λ的单色光垂直照射,已知平凸透镜的曲率半径为R,求反射光形成的牛顿环的各暗环半径。
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为测量在硅表面的保护层SiO2的厚度,可将SiO2的表面磨成劈尖状,如图所示,现用波长λ=644.0nm的镉灯垂直照射,一共观察到8根明纹,求SiO2的厚度.
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