制备超声探伤的试件时希望试件中的材质（），形状简单，表面粗糙度要好。

超声波探伤仪B型显示是显示试件中缺陷的（）图形。

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IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。

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用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。

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用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。

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将纵波通过斜楔或水等介质斜入射至试件探测面进行探伤，试件中可以有纵波、横波和（）波形，与入射时的（）有关。

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显示试件横截面表示超声波探伤结果的方法称为（）。

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探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。

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超声波探伤，根据底面回波的高度变化，判断试件缺陷情况的方法，称为（）。

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液浸法探伤，由于探头与试件不接触，超声波的发射和接收都比较稳定。

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