测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成。

测量系统应处于统计受控状态意味着在重复测量条件下，测量系统中的变差只能由（）造成，而不能由特殊原因造成。这种情况可称之为具有统计的稳定性，并且可以通过（）法最佳地进行评价。

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普通原因导致的变差是（）。

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再现性是由（）评价人，用同一测量仪器测量（）零件的同一特性所获得的平均值的变差。

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以下哪种原因可能导致测量结果的变差（）。

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以下哪种原因可能导致测量结果的变差（） 。

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测量系统的（）通常被称为测量设备的变差。

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测量系统的（）通常被称为评价人的变差。

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测量系统分析是在特殊原因造成的过程变差的基础上进行分析。

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对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。

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