单选题

使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果()。

A小于实际尺寸

B接近声束宽度

C稍大于实际尺寸

D等于晶片尺寸

正确答案

来源:www.examk.com

答案解析

相似试题
  • 使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()

    单选题查看答案

  • 在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。

    判断题查看答案

  • 在锻件检测中, 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。

    判断题查看答案

  • 什么是半波高度法?若发现一缺陷有多个波峰,该缺陷的长度应如何测定?

    简答题查看答案

  • 当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。

    判断题查看答案

  • 超声波检测锻件时, 当缺陷尺寸小于声束截面时,一般可采用()。

    单选题查看答案

  • 在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。

    判断题查看答案

  • 当声束指向不与平面缺陷垂直时,在一定范围内,缺陷尺寸越大,其反射回波强度越:()

    单选题查看答案

  • 在超声探伤时,如果声束指向不与平面缺陷垂直,则缺陷尺寸一定时,缺陷表面越平滑反射回波越:()

    单选题查看答案