单选题
A高密度、多阵元高频探头
B多焦点聚焦探头技术
C环阵聚焦探头
D三维空间聚焦技术
E以上技术均不正确
正确答案
答案解析
略
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消除切片（断层）厚度伪像应选择以下哪项技术（）
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消除切片（断层）厚度伪像应选择以下哪项技术（）。
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切面(断层)厚度伪像也称部分容积效应伪像与下列哪项有关（ ）
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切片（断层）厚度伪像（又称部分容积效应）产生的原因是（）。
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切片（断层）厚度伪像（又称部分容积效应）产生的原因是（）。
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切片厚度伪像的产生与下列因素有关（ ）
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下列哪一项可消除断层厚度伪像（部分容积效应）（）
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切面（断层）厚度伪像也称部分容积效应伪像与下列哪项有关（）。
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切面（断层）厚度伪像也称部分容积效应伪像与下列哪项有关（）。
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