Aλ/2
Bλ/3
Cλ/4
Dλ/5
技术光波干涉法可以检定测量面的平面度,是利用光波()原理。
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当百分表转数的圈数指针对准分度盘任一刻度时,指针对测杆轴线的偏移不应超过()个分度。
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高度卡尺量爪测量面的平面度误差不得大于()
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用一光源发出两列光波彼此相遇时,出现明暗相间的稳定条纹,即光的()现象
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两列波能产生干涉的必要条件是,两列光波在叠加处的振动方向()
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用平晶检定千分尺工作面时,如干涉条纹向内跑即为()
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用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹,则说明工作面为()面
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用平晶检定千分尺工作面时出现()干涉条纹,则说明被检千分尺工作面非常平整
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卡尺研磨器的平面度公差为()
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