A对
B错
用A型标准试片可以估计()。
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A型标准试片上施加磁粉是用剩磁法进行的。
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A型标准试片上施加磁粉是用()进行的。
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磁粒检测法中使用标称15/100的A型灵敏度试片,它表示()。
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灵敏度标准试片的使用可以了解探伤面上的()和()。
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使用A型灵敏度试片进行磁粉探伤时,应将试片()的一面与零件探伤面紧贴31.涡流检测中的涂层测厚最常见的是利用()效应。
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有时用镀层裂纹试片来比较灵敏度,试片上通常有一层脆性镀层,这些试片上的裂纹产生()。
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灵敏度标准试片可用来测定磁粉探伤系统的综合性能和磁粉性能。
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用悬臂弯曲模弯曲镀层朝下的试片,产生的裂纹聚集在一起,接近夹持端的裂纹较密集
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