NiO晶体为NaCl型结构，将它在氧气中加热，部分Ni²⁺将氧化为Ni³⁺，成为Ni_xO（x＜1）。今有一批Ni_xO，测得其密度为6.47，用波长λ=154pm的X射线通过粉末法测得立方晶胞111衍射指标的θ=18.71°（sinθ=0.3208）。在Ni_xO晶体中，Ni-Ni间最短距离是多少？

NiO晶体为NaCl型结构，将它在氧气中加热，部分Ni2+将氧化为Ni3+，成为NixO（x＜1）。今有一批NixO，测得其密度为6.47，用波长λ=154pm的X射线通过粉末法测得立方晶胞111衍射指标的θ=18.71°（sinθ=0.3208）。

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NiO晶体为NaCl型结构，将它在氧气中加热，部分Ni2+将氧化为Ni3+，成为NixO（x＜1）。今有一批NixO，测得其密度为6.47，用波长λ=154pm的X射线通过粉末法测得立方晶胞111衍射指标的θ=18.71°（sinθ=0.3208）。

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NiO晶体为NaCl型结构，将它在氧气中加热，部分Ni2+将氧化为Ni3+，成为NixO（x＜1）。今有一批NixO，测得其密度为6.47，用波长λ=154pm的X射线通过粉末法测得立方晶胞111衍射指标的θ=18.71°（sinθ=0.3208）。

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NiO晶体为NaCl型结构，将它在氧气中加热，部分Ni2+将氧化为Ni3+，成为NixO（x＜1）。今有一批NixO，测得其密度为6.47，用波长λ=154pm的X射线通过粉末法测得立方晶胞111衍射指标的θ=18.71°（sinθ=0.3208）。

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NiO晶体为NaCl型结构，将它在氧气中加热，部分Ni2+将氧化为Ni3+，成为NixO（x＜1）。今有一批NixO，测得其密度为6.47，用波长λ=154pm的X射线通过粉末法测得立方晶胞111衍射指标的θ=18.71°（sinθ=0.3208）。

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NiO晶体为NaCl型结构，将它在氧气中加热，部分Ni2+将氧化为Ni3+，成为NixO（x＜1）。今有一批NixO，测得其密度为6.47，用波长λ=154pm的X射线通过粉末法测得立方晶胞111衍射指标的θ=18.71°（sinθ=0.3208）。算出x值，写出标明Ni的价态的化学式。

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LiCl晶体（NaCl型结构）的晶胞边长为a，假定阴离子之间接触，则Cl-的半径为（）

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TiO为NaCl型结构，每个晶胞中有4个TiO化学式单元，X射线衍射数据表明Ti和O的比例为1：1，立方晶胞的边长为418pm，测量体积和质量得到的密度是4.92g·cm-3。这些数据能否表明晶体内部有缺陷存在？如果有的话，请进一步指出它们属空位缺陷还是间隙缺陷（已知1个TiO化学单元质量为63.88u，1u= 1.66×10-24g？

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某氧气瓶的容积为50L。原来瓶中氧气压力为0.8MPa、温度为环境温度293K。将它与温度为300K的高压氧气管道接通，并使瓶内压力迅速充至3MPa（与外界的热交换可以忽略）。试求充进瓶内的氧气质量。

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