不适用于磁粉探伤的材料是（）：
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磁粉探伤主要用于检查（）材料的（）及（）位置缺陷
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磁粉探伤主要用于检查（）材料的（）及（）位置缺陷
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磁粉探伤主要用于检测（）材料的（）及（）部位的缺陷
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磁粉探伤法只能用于铁磁性材料
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磁粉探伤法可以用于检查导电材料
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磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于线圈法的磁粉材料和系统灵敏度的评价
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磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于中心导体法的磁粉材料和系统灵敏度的评价
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磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于复合磁化法的磁粉材料和系统灵敏度的评价
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