磁粉探伤主要用于检查（）材料的（）及（）位置缺陷
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磁粉探伤主要用于检测（）材料的（）及（）部位的缺陷
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磁粉探伤法可以用于检查导电材料
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磁粉探伤法只能检查铁磁性材料的表面及近表面位置缺陷
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只要是导电材料都可以采用磁粉探伤法检查表面及近表面位置缺陷
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磁粉探伤的深度主要取决于工件材料的磁导率，缺陷的类型及磁化电流的（）和（）
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磁粉探伤的深度主要取决于工件材料的磁导率，缺陷的类型及磁化电流的（）和（）
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不适用于磁粉探伤的材料是（）：
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不适用于磁粉探伤的材料是（）。
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