在超声波探伤中，从各个方向都能探测到的缺陷是（）缺陷。

超声波探伤，从各个方向都能探测到的缺陷是（）缺陷。

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从各个方向都能探测到的缺陷是平面状缺陷。

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在超声波探伤中，斜探头主要用于探测什么缺陷？

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在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？

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在超声波探伤中，（）的1/2左右的缺陷尺寸为探测极限。

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超声波探伤反射法中没有探测盲区的探伤方法是（）。

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在超声波探伤中，缺陷的方向对缺陷反射波的高度有什么影响？

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在超声波探伤中，缺陷的方向对缺陷反射波的高度有什么影响？

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在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。

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