超声波探伤，从各个方向都能探测到的缺陷是（）缺陷。

在超声波探伤中，从各个方向都能探测到的缺陷是（）缺陷。

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从各个方向都能探测到的缺陷是平面状缺陷。

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在超声波探伤中，斜探头主要用于探测什么缺陷？

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超声波容易探测到的缺陷尺寸一般不小于（）。

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超声探伤，能够探测的缺陷尺寸，一般不小于一个波长。

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超声波探伤系统所具有的探测最小缺陷的能力，称为仪器的（）。

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在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？

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在超声波探伤中，（）的1/2左右的缺陷尺寸为探测极限。

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容易探测到的缺陷尺寸一般不小于超声波长的一半。

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