不论哪种千分尺，为什么都要检定微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置？
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千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面距离应不在于（）。检定应在微分筒转动一周内不少于（）位置上进行。
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检定分尺微分筒锥面的端面至固定套管毫米刻线右边缘的相对位置，是为了防止（）
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千分尺刻线宽度及宽度差是在工具显微镜上检定。微分筒或刻线盘上的刻线宽度至少任意抽二条刻线。
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检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。
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用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
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检定千分尺刻线宽度及刻线宽度差，要求固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为0.15±0.05mm，刻线宽度差应不大于（）
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千分尺的测量下限调整至正确后，微分筒锥面的端面与毫米刻线的相对位置，离线不大于0.1mm或压线不大于（）
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检定千分尺为什么要严格控制检定室温度？
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