填空题
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略
相似试题
千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面距离应不在于（）。检定应在微分筒转动一周内不少于（）位置上进行。
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不论哪种千分尺，为什么都要检定微分筒锥面的棱边至固定套管刻线面的距离？
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检定分尺微分筒锥面的端面至固定套管毫米刻线右边缘的相对位置，是为了防止（）
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用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
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对于0-25mm的公法线千分尺用（）调整其测量下限；对测量范围的测量下限位置的调整用（）进行调整。
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检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。
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千分尺的示值误差，在检定之前，应将测量下限校准后进行，对于测量下限25mm以上的千分尺，其测量下限用等的量块进行校准时，应如何进行？
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千分表的示值误差，在检定之前，应将测量下限校准后进行，对于测量下限25mm以上的千分尺，其测量下限用等的量块进行校准时应如何进行？
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不论哪种千分尺，为什么都要检定微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置？
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