使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。
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使用K型扫查阵列式探头探测焊缝,增加发收晶片数量主要是为了提高()。
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TB/T2658.21—2007规定,对钢轨焊缝轨底部位用双探头K型扫查时,灵敏度如何校准?
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TB/T2658.21—2007标准规定,焊缝轨腰部位双探头探伤时,K型扫查其灵敏度如何校准?
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钢轨焊缝用的扫查装置,当使用阵列式组合探头对钢轨焊缝进行分段扫查时,扫查间隔应不大于()。
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阵列式探头通常是由三个及以上的压电晶片组装的探头。
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用于现场焊缝的扫查装置应能对轨头和轨底两部位进行()扫查,能对轨腰部位进行K型扫查或串列式扫查。
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画出焊缝轨底部位K型扫查探伤灵敏度校准图。
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焊缝探伤所用的阵列探头分段扫查间隔应≤15mm。
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