超声检测时只有在试块和试件探测面形状、厚度相同的条件下，才能进行材质差值的测定。

超声检测时只有在试块和试件的材质、探测面形状和厚度均相同的条件下，才能进行探测面粗糙度差值的测。

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测定当量用的对比试块，要求材质、探测面形状及粗糙度与试件相同，否则要对测定结果进行（）。

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调节仪器的探测距离时，试块和被检件必须在（）特性上一致。

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超声波探伤中所用的试块，通常可分为（）试块和（）试块两大类。

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在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷，则该缺陷的当量：（）

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探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。

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TB/T2658.21—2007标准规定探伤仪动态范围测量，连接探头并在试块上探测任一反射波作为参照波。

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制备超声探伤的试件时希望试件中的材质（），形状简单，表面粗糙度要好。

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IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。

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