试件厚度愈大，则散射比（），射线能量越高，则散射比（）。

试件厚度越大，则散射比（），射线能量越高，则散射比（）。

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射线能量越高，则穿透力（），物质密度越大，对射线的（）越大。

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在探测同一材料时，频率越高则衰减愈大。

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X射线能量越高，穿透力（）、物质密度越大，对射线吸收（）。

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在射线探伤中，影响缺陷检测的因素很多，除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外还有几何不清晰度、固有不清晰度、（）、射线的入射方向及透照厚度差等。

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射线通过物质时，正向散射线引起的射线强度增加，称为（）。

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同样厚度的两个金属试件，一个可测得五、六次底面回波，另一个只测得二次底面回波，则后者的声阻抗大。

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探测面曲率愈大，宜用芯片尺寸（）的探头，它可使透入试件的声能损耗减小。

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用折射角45°的探头，一次波法探测厚度为100mm的试件，若有机玻璃斜楔中的声程为15mm，则最大测距相当钢中纵波声程（）。

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