斜探头探伤时试块上最常用的反射体是:()。
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直探头探伤,反射体距离小于三倍近场区长度时,校准探测灵敏度应采用()。
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在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的()作用,使小缺陷多次反射回波高度常常是第一次要比第二次偏低。
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在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的叠加作用,致使小缺陷多次反射回波高度常常是第二次要比第一次高
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探伤前必须调校仪器灵敏度,探头置于试块上,主声束垂直扫查人工缺陷,找出最高反射法,将反射回波的幅度调到标准要求的高度。
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检测晶粒粗大的材料应使用()的探头。
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探头中使用压电陶瓷晶片的优点是()。
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铸钢件毛坯接触法探伤主要使用的探头是高频直探头或斜探头
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检测晶粒粗大的材料,应使用高频率的探头。
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