A耦合不良
B存在与声束不垂直的平面缺陷
C存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
D以上都是
在直探头探伤时,发现缺陷回波不高,但底波降低较大,则该缺陷可能是()
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在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置,其原因是()
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单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()
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在厚焊缝斜探头探伤时,一般宜使用什么方法标定仪器时基线()
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在毛面或曲面工件上作直探头探伤时,应使用()
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在斜探头厚焊缝探伤时,为提高缺陷定位精度可采取措施是()
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在平整光洁表面上作直探头探伤是宜使用硬保护膜探头,因为这样()
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影响直接接触法耦合损耗的原因有()
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超声波探伤仪的探头晶片用的是下面哪种材料()
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