A侧面反射波带来干涉
B探头太大,无法移至边缘
C频率太高
D以上都不是
在直探头探伤时,发现缺陷回波不高,但底波降低较大,则该缺陷可能是()
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单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()
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在直接接触法直探头探伤时,底波消失的原因是()
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锻件探伤时,如果用试块比较法对缺陷定量,对于表面粗糙的缺陷,缺陷实际尺寸会()
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在毛面或曲面工件上作直探头探伤时,应使用()
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在平整光洁表面上作直探头探伤是宜使用硬保护膜探头,因为这样()
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在斜探头厚焊缝探伤时,为提高缺陷定位精度可采取措施是()
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为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷,凹曲面周向斜探头探伤应选用()
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锻件超声波探伤时机应该选择在()
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