在THDS-A设备（哈科所）探测站中，靶温可代表（）。

THDS-A（哈科所）探测站中，探头箱内的热靶总成应符合（）等要求。

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THDS-A（哈科所）探测站热靶镀膜损伤时，影响（）。

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在THDS-A设备（哈科所）探测站中，板温可代表（）。

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在THDS-A设备（哈科所）探测站中，元温可代表（）。

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下列THDS-A（哈科所）探测站关于热靶描述正确的有（）。

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THDS-A（哈科所）探测站的热靶组件由力矩转角（）驱动。

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在THDS-A设备（哈科所）探测站中出现板温-50度或+150度，与（）无关。

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THDS-A（哈科所）探测站室外设备包括（）等。

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THDS-A（哈科所）系统，热靶曲线加热过快，可能会影响设备的测温精度。

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