体积状缺陷的可检出性主要取决于射线照相（）细小缺陷的可检出性还取决于胶片的（）。

射线照相检验方法的局限性是不易评定缺陷的形状，大小和分布。

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在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为深度定位视差法。

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为了提高射线照相的对比度，在照相胶片选定以后，选用的射线能量越低越好。

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在进行焊缝射线照相时，线型透度计一般是放置在钢板上面。

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射线照相的几何不清晰度Ug与焦点的大小成正比，与射线源到工件表面的距离成反比。

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粒度大的X射线胶片其照相的清晰度比粒度小的胶片差。

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当用观片灯观察底片时，为了获得更直观的效果，在曝光时采用不同方向摄取两张底片的特殊照相方法，称之为立体射线照相法。

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当采用高KV值X射线照相法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏。

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对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以提高管电压并使用铅箔增感屏。

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