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荧光磁粉探伤中,被检试件上的紫外光强度不得低于()LX

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答案解析

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  • 荧光磁粉探伤中,被检试件上的紫外光强度不得低于()LX

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  • JB4730-94中规定,荧光磁粉探伤时黑光灯的紫外线强度一般要求在工件被检表面处应不低于()

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  • 磁粉探伤前对被检试件表面应清除()等,使用干粉法探伤面必须()

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  • 磁粉探伤前对被检试件表面应清除()等,使用干粉法探伤面必须()

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  • GB 5097-85标准适用于检查黑光源的强度,并可在荧光磁粉和荧光渗透探伤时,检查被检物表面上的黑光强度以及渗透荧光性能的变化()

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  • 磁粉探伤的基本原理是要在试件上能建立一定大小的磁感应强度

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  • 在被检试件上发现一个单独的线状显示迹痕长度为2mm,按ZBJ04005-87标准评定,该缺陷为()级

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  • 按ZBJ 04005-87标准规定,荧光渗透探伤时,被检物表面上的标准荧光强度应大于()lx

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  • 施加荧光渗透液之前,试件上的酸性材料去除不净会引起()。

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