对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。

测量系统的（）通常被称为测量设备的变差。

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测量系统的（）通常被称为评价人的变差。

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测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成。

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测量系统分析是用于分析测量系统对数量化测量值的影响，主要强调（）和（）的变差对测量值的影响。

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在测量系统分析中，评价一个人使用一件测量设备，对同一零件的某一个特性进行多次测量下的变差，称为（）。

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再现性：是指不同的操作人员采用不同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差，又叫系统间的误差。

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重复性：是指同一个操作人员用同一量具经多次测量同一零件的同一特性所获得的测量值的变差，又叫系统内的误差。

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测量系统应处于统计受控状态意味着在重复测量条件下，测量系统中的变差只能由（）造成，而不能由特殊原因造成。这种情况可称之为具有统计的稳定性，并且可以通过（）法最佳地进行评价。

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以下哪种原因可能导致测量结果的变差（）。

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