与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。

CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）

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CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。

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CSK－ⅡA试块的主要作用是什么？

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按水平距离校准横波扫描速度必须在CSK-ⅠA试块上进行。

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CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。

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CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。

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斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。

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根据NB/T47013.3-2015标准规定，对于板厚为6mm的钢对接焊接接头超声检测，可采用CSK-ⅠA和CSK-ⅡA试块。

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CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。

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